光切显微镜测量中应注意的问题The Problems to be Noticed in Measuring with Line Cut Microscope
马海荣,李兰,彭伟,郭聚东
摘要(Abstract)：
讨论了使用光切显微镜测量零件加工表面微观形状的表面粗糙度时应注意的几个问题,对物镜的合理选择和安装、光带的正确调整、仪器的调整与校验、测量方向的确定、合理的定度与取值、精确的读数及计算等方面进行了详尽的阐述,为操作者正确使用设备、获得可靠的测量数据以及减少误判提供了有效的帮助。
关键词(KeyWords)： 光切显微镜;测量;表面粗糙度
基金项目(Foundation):
作者(Author): 马海荣,李兰,彭伟,郭聚东